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案例展示/Case Showcase
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04-222026紫外-可见-近红外分光光度计测量粉末状 TiO2 带隙在半导体和纳米材料行业测量带隙是非常重要的。绝缘体的带隙大（＞4 eV），导体的带隙小（＜3 eV）。某一半导体的带隙特性可以通过不同的半导体合金得到控制，如 GaAlAs， InGaAs 和InAlAs。查看详情
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04-202026PerkinElmer Spectrum 3™ FT-IR 自动分析系统测量 硅晶圆中的元素杂质Spectrum 3测定硅晶圆中的碳和氧杂质水平，避免杂质水平过高，导致电活性缺陷和产品故障/报废。根据全球标准方法，红外光谱提供了快速和简易的测量方法，用于测定这些杂质水平查看详情
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