NexION 5000G 是珀金埃尔默面向半导体超净分析的多重四极杆 ICP‑MS,核心优势为超痕量检测(BEC<1 ppt)、SEMI S2/S8 合规、极低本底污染、适配高纯材料 / 晶圆 / 电子特气分析 **。
一、核心系统(多重四极杆)
- 质量分析器:四组四极杆(Q0+Q1+Q2+Q3)
- Q0:四极杆离子偏转器(防污染)
- Q1/Q3:全尺寸四极杆,分辨率 < 0.7 amu(最优 < 0.3 amu)
- Q2:四极杆通用池(动态带通调谐,消除复杂干扰)
- 离子接口:第二代三锥接口(TCI)+ OmniRing™,锥后免维护
- 射频发生器:34 MHz 自激式,LumiCoil™线圈空气冷却(无需水冷)
二、半导体级性能(超净版核心)
- 背景等效浓度(BEC):<1 ppt(高温等离子体中)
- 检出限(DL):≤0.1 ppt(典型半导体元素)
- 线性动态范围:10¹⁴(EDR 电子稀释技术)
- 质量范围:2–290 amu
- 扫描速度:最短驻留时间10 μs
- 本底污染:<0.1 ppt(全元素),超净间适配
- 干扰消除:NH₃/O₂/H₂/NF₃等反应气体,消除多原子 / 同质异位素干扰
三、进样系统(半导体专用)
- 雾化器:PFA‑ST(耐 HF,低本底)
- 雾化室:Fluoropolymer(低吸附)
- 炬管:2 mm 内径(高纯石英)
- 样品流量:100–1000 μL/min
- 耐腐蚀性:100% PFA / 石英材质,适配 HF/HNO₃体系
四、超净合规与环境
- 认证:标配SEMI S2/S8(应急停止、安全联锁)
- 洁净等级:**ISO 14644‑1 Class 1(Class 10)** 适配
- 材质:全路径PFA / 石英 / 钛合金,无金属析出
- 排气:最大 4.3 m³/min(超净间排风适配)
- 电源:单相 200V 20A×1;15A×1
- 氩气:≤20 L/min(纯度≥99.996%)
五、物理规格
- 尺寸(宽 × 高 × 深):114 × 85 × 85 cm
- 重量:191 kg
- 安装空间:≥2.5 m²(超净间标准)
六、软件与数据
- 工作站:Syngistix™ v3.0(半导体专用模板)
- 数据格式:符合SEMI E10/E14,可对接 Fab LIMS
- 合规审计:FDA 21 CFR Part 11、GMP支持
七、关键差异(5000G vs 标准 5000)
- 5000G:超净材质、SEMI 认证、本底 < 0.1 ppt、高纯分析优化
- 标准 5000:通用材质、无 SEMI、本底 < 1 ppt、环境 / 制药 / 食品应用